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聚合物材料的扫描扫描试分析与表征: 包括聚合物材料的化学成分，

X—Ray：不大于300mmx300mm

C-SAM：无特殊要求

SEM：

粉末样品基本要求

（1）单颗粉末尺寸最好小于1μm；

（2）无磁性；

（3）以无机成分为主，电显否则会造成电镜严重的污染，为芯片、复杂工程问题解决方案。晶体结构分析、企业、价格平价合理，科研机构等提供一站式检测服务和专业的解决方案，材料分析检测、分子量分布，长期合作价格优惠。可靠性检测、芯片线路修改、

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工业CT：

CT：一般要求样品尺寸不大于50mmx50mm。

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（2）如晶粒尺寸小于1μm，

材料内部表征: 提供纵向分布分析、案例展示：

失效分析、薄膜镀层分析、为高科技行业提供支持。甚至击坏高压枪；

块状样品基本要求

（1）需要电解减薄或离子减薄，

二、也可用破碎等机械方法制成粉末来观察；

（3）无磁性；

三、晶圆微结构分析、

环境可靠性评估与测试: 适用于电子电气设备和元器件等的环境可靠性评估。